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產(chǎn)品資源
產(chǎn)品分類
產(chǎn)品文檔：
XTDIC三維全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)
提供測量范圍內(nèi)的三維全場應(yīng)變變形及位移測量
產(chǎn)品特點
系統(tǒng)優(yōu)勢
1、非接觸測量
2、直接測量全場應(yīng)變、位移、變形、形貌
3、相關(guān)圖像數(shù)據(jù)可反復(fù)分析處理，以實現(xiàn)不同研究目的，而無須重復(fù)試驗，節(jié)約經(jīng)濟和時間成本
4、直接測量全場振幅、振動信息
5、可用于實時監(jiān)測
6、試驗過程可追溯、可評估
產(chǎn)品介紹
新拓三維XTDIC采用高精度的數(shù)字圖像相關(guān)算法，為試驗者提供非接觸式動態(tài)全場三維應(yīng)變及位移測量。
DIC技術(shù)在室內(nèi)室外的普通環(huán)境均可使用，應(yīng)變測量范圍從0.005%-2000%以上，配合不同的圖像采集硬件，測量對象尺寸可以從幾mm2-幾十m2，更大測量幅面也可定制，理論上在此測量范圍內(nèi)只要能獲取高質(zhì)量圖像，即可進行精確的應(yīng)變和變形測量。
XTDIC三維全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)可與雙目體顯微鏡技術(shù)結(jié)合，實現(xiàn)微小物體變形過程中表面的三維坐標(biāo)、位移場及應(yīng)變場的測量。
